深い準位の電界依存熱放出データの解釈

本論文は、半導体ダイオードの空間電荷領域における深い準位からの熱放出と同時に生じるDebye尾部からのキャリア再捕獲の影響について考察する。電界依存熱放出調査における上述のプロセスの重要性をDLTS測定により実証する。再捕獲機構を無視すると誤った解釈につながり得ることを示す。