情報と価格についてはお問い合わせください
専門家のアドバイスと研究ニーズに合わせたソリューションを入手してください
1995 • Proceedings of ALTECH 95, vol. 95-30, pp. 73-82
V. Faifer, P. Edelman, A. Kontkiewicz, J. Lagowski, A. Hoff, V. Dyukov, A. Pravdivtsev, I. Kornienko
