情報と価格についてはお問い合わせください
専門家のアドバイスと研究ニーズに合わせたソリューションを入手してください
2001 • Microelectronics Reliability 41 2001) 1403
J. Ackaert, Z. Wang, E. De Backer, P. Colson, P. Coppens
