병렬 쌍극자 선 홀 효과 시스템을 이용한 CdTe, CdSeTe 및 CdSe 박막의 전기적 특성 추출

증착된 상태의 CdSe, 증착된 상태 및 CdCl2 처리된 Cd'Te, CdCl2 처리된 CdSeTe/CdTe 박막의 전기적 특성은 고감도 PDL(병렬 쌍극자 선) 홀 효과 시스템을 사용하여 조사되었습니다. PDL 홀은 보다 안정적이고 정확한 측정을 위해 신호 대 잡음비(S/N)가 향상된 AC 및 기존 DC 자기장 모드를 제공합니다. PDL 홀 효과 측정을 위해 측정 공정에 사용되는 단계가 상세히 제시됩니다. 박막의 캐리어 농도, 이동도, 저항률, 시트 저항 및 대다수 전하 캐리어 유형(p 또는 n)을 홀 측정에서 추출할 수 있습니다. CdTe 박막의 IV 스캔 중 저항률 측정을 통해 쇼트키 유형 거동이 관찰되었습니다. 이러한 비옴성 거동을 제거하기 위해 금과 같이 시료 접합부에 더 적합한 재료가 사용됩니다. 이를 통해 신호 품질이 향상되어 보다 신뢰성 있는 결과를 도출할 수 있습니다.