超越介孔/大孔邊界：透過客製化吸附劑擴展薄膜中基於毛細管冷凝的孔徑表徵

含有直徑超過 50 nm 奈米孔的薄膜的表徵提出了重大挑戰，特別是在部署基於吸附的技術時。 由於樣品製備和無損檢測的限制，傳統的體積物理吸附或壓汞方法在薄膜中的適用性有限。 在這種情況下，橢圓偏振孔隙率測定法利用其對薄膜的光學敏感性，成為可行的替代方案。 對於依賴諸如水之類的揮發性化合物的毛細管冷凝的現有裝置，其適用性通常限於小於50nm的孔尺寸。 在這項研究中，我們引入了兩種高摩爾質量碳氫化合物吸附劑，即乙苯和n-壬烷。 這些吸附劑在提高中孔性(即＞50nm)以外的物理吸附測量的準確性方面表現出巨大的潛力。 具體來說，使用n-壬烷，適用性可擴展至 80 nm 孔徑。 我們的測量指南提出了一種無損、快速（<60 分鐘）、低壓（<0.03 bar）的方法來研究奈米多孔薄膜對不同結構系統的潛在適應性。

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