光伏的高階表徵是一個複雜的過程,必須解決體缺陷、界面、鈍化和退化現象。 它不僅需要適當的測量技術,還需要將測量與改變缺陷/界面活性的處理相結合。 優選地,計量應當是非接觸式的且具有成本效益。 這項工作的目的是為矽光伏提供這種多功能晶圓級表徵能力。 在本文中,我們描述了一個多功能計量平台。 給出的範例應用說明了順序測量對於以下方面的重要性: 1 - 監測光伏晶片和太陽能電池的光致退化; 2-界面陷阱密度與表面複合之間的相關性以及表面勢壘的作用,3-場效應電位發射極鈍化的監測。
M. Wilson, J. D'Amico, A. Savtchouk, P. Edelman, A. Findlay, L. Jastrzebski, J. Lagowski, K. Kis-Szabó, F. Korsós, A. Tóth, A. Pap, R. Kopecek, K. Peter