矽光電的統一壽命測量

我們提出了一種統一的壽命測量方法，能夠對太陽能電池製造中最常用的兩種壽命進行自洽的無參數測定，即過量載流子衰變壽命 τ_eff.d 和準穩態有效壽命 τ_eff。 此方法使用準穩態微波檢測光電導衰減 (QSS-μPCD) 技術，透過該技術，對穩態載子激勵施加小擾動雷射脈衝激勵長達 25 個太陽。 衰變品質控制 (QDC) 是一種新穎的元素，對於可靠測量 τ_eff.d 至關重要。 它能夠精確調整實驗條件，以實現實際理想的單指數衰減條件。 一旦確定了 τ_eff.d 的照明特性，Schuurmans 等人的積分過程就可以完成。 (1997) 用於確定相應的穩態有效壽命 τ_eff。 結果與 QSSPC 非常相關。 τ_eff.d 的測量和積分都不需要任何晶圓參數，因此，兩種壽命的決定應被視為「無參數」方法。