在微波反射光电导衰变 (μ-PCD) 分析复合中心之前应用元素特定的驱入处理可以将复合中心分配给金属污染物,这会对复合寿命 (τ) 产生降低的影响。 可以通过注入水平的变化(注入水平光谱)进一步获得元素特定信息。 使用 Schockley-Read-Hall 重组模型对测量和计算的寿命进行比较,可以将 Fe 识别为寿命杀手。 将寿命与样品厚度数据相关联提供了绝对寿命校准的可能性。
L. Köster, P. Blöchl, L. Fábry
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