深陷阱电场相关热发射数据的解释

本文考虑了从德拜尾重新捕获载流子与半导体二极管空间电荷区深陷阱热发射同时发生的后果。 DLTS 测量证明了上述过程在场相关热发射研究中的重要性。 事实证明，忽视重新捕获机制可能会导致误解。