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1998 • Recombination Lifetime Measurements in Silicon, ASTM publication # STP 1340, Eds., America Society for Testing and Materials, 206-216
本文的范围是了解影响载流子寿命测量结果的最重要参数。 详细讨论了表面条件和载流子注入水平的作用。 针对一些重要复合中心（例如 Fe、Cr、Au 和 Co）的情况，对 μ-PCD 和 SPV 两种技术进行了比较。Fe 和 Cr 均通过这两种技术以单原子形式以及与掺杂剂硼配对时进行研究。 结果表明，当考虑注入水平的差异时，SPV 结果与 μ-PCD 数据的预期一致。 这两种技术的能力在 Fe-B 和 Cr-B 对解离和缔合过程中得到了证明。
T. Pavelka, D.C. Gupta, F.R. Bacher, W.M. Hughes