SRP-170 拡がり抵抗プロファイリング

Name: SRP-170 拡がり抵抗プロファイリング
Brand: Semilab

SRP-170 拡がり抵抗プロファイリング — 拡がり抵抗プロファイリング

測定パラメータ：

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著者: Samu Viktor, Kerekes Árpád, Pongrácz Anita, Durkó Zsolt

トピック: microPL; JPV; photo-modulated reflectance

著者: E. E. Najbauer, L. Sinkó, Sz. Biró, Z. Durkó, P. Basa

トピック: carrier density; epitaxial layer; semiconductor; Silicon (Si); SRP-2100; SRP; FTIR REFLECTOMETRY

SRP-170 拡がり抵抗プロファイリング