microPL, JPV, photo-modulated reflectance2023
Siにおけるイオンチャネリングおよびコインプラントがイオン飛程と損傷に及ぼす影響:PL、SRP、SIMSおよびMCモデルによる研究
著者: Samu Viktor, Kerekes Árpád, Pongrácz Anita, Durkó Zsolt
トピック: microPL; JPV; photo-modulated reflectance
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• プロセス制御:半導体ファブにおける先端プロセスモニタリングとチューニング
• 故障解析:Siデバイスのトラブルシューティングのための正確なドーパントおよび抵抗率プロファイリング
• 研究開発:多層膜および化合物半導体構造のプロファイリング
• 特性評価:接合、遷移ゾーン、多層膜スタックのデプスプロファイリング
SRP-2100 / SRP-2100i 拡がり抵抗プロファイリング
著者: Samu Viktor, Kerekes Árpád, Pongrácz Anita, Durkó Zsolt
トピック: microPL; JPV; photo-modulated reflectance
著者: E. E. Najbauer, L. Sinkó, Sz. Biró, Z. Durkó, P. Basa
トピック: carrier density; epitaxial layer; semiconductor; Silicon (Si); SRP-2100; SRP; FTIR REFLECTOMETRY
SRP-2100 / SRP-2100i 拡がり抵抗プロファイリング