Semilab의 AFM-1000은 학술 연구와 반도체 산업 응용 분야 모두를 위해 설계된 다목적 원자힘 현미경입니다. 이 소형 시스템은 노이즈 수준이 매우 낮은 고해상도, 아원자수준의 정밀 측정을 제공하며 최대 65x65mm 크기의 다양한 시료에 대한 일관된 나노 지형 측정 및 전기적 특성 분석에 이상적입니다.
최첨단 기술과 수십 년간의 노하우를 갖춘 Semilab 탁상용 AFM 시스템은 반도체 산업 표준을 기반으로 한 학술 연구 현미경 측정 솔루션을 제공합니다.
AFM-1000 원자힘 현미경
저자: Katalin Csonti, Csilla Fazakas, Kinga Molnár, Imola Wilhelm, István A. Krizbai, Attila G. Végh
주제: adhesion assay; Zeiss AFM; single-cell force spectroscopy
저자: P.M. Nagy, D. Aranyi, P. Horváth, G. Pető, E. Kálmán
주제: nanoindentation; Ion Implantation; mechanical properties; AFM
저자: Bálint Szentpéteri; Albin Márffy; Máté Kedves; Endre Tóvári; Bálint Fülöp; István Kükemezey; András Magyarkuti; Kenji Watanabe; Takashi Taniguchi; Szabolcs Csonka; Péter Makk
주제: Pressure effects; Quantum Hall effect; Spin-orbit coupling; Weak antilocalization; Bilayer graphene; Graphene; Heterostructures; Transition metal dichalcogenides; Shubnikov-de
AFM-1000 원자힘 현미경
