• 숙련된 작업자라면 누구나 사용할 수 있는 사용자 친화적 작동
• 스크립트 또는 레시피 기반 작동의 유연한 워크플로 제어
• 넓은 이동 범위(200×250mm)의 XY 스테이지를 통한 고정밀 시료 위치 제어
• 스캔 중 시각적 위치 설정 및 제어를 위한 통합 광학 시스템
• 고해상도 CCD 카메라
• 프로그래밍 가능한 위치 제어 및 리포트 생성을 통한 완전 자동화 측정
• 태핑, 컨택트, 전도성 AFM, EFM, KPFM, MFM 등 다양한 SPM 모드 지원
AFM-2000 원자힘 현미경
저자: L. Quattropani, K. Solt, P. Niedermann, I. Maggio-Aprile, O. Fischer, T. Pavelka
주제: Schottky diode; RF plasma treated silicon
저자: Katalin Csonti, Csilla Fazakas, Kinga Molnár, Imola Wilhelm, István A. Krizbai, Attila G. Végh
주제: adhesion assay; Zeiss AFM; single-cell force spectroscopy
저자: D. Marinskiy, P. Edelman, A.D. Snider
주제: Kelvin force microscopy; corona charge; concentration profile; surface diffusion
저자: Dmitriy Marinskiy, Patrick Polakowski, Jacek Lagowski, Marshall Wilson, Piotr Edelman, Johannes Müller
주제: corona - Kelvin; Non-Contact Measurement; THIN FILM CHARACTERIZATION
저자: P.M. Nagy, D. Aranyi, P. Horváth, G. Pető, E. Kálmán
주제: nanoindentation; Ion Implantation; mechanical properties; AFM
저자: Bálint Szentpéteri; Albin Márffy; Máté Kedves; Endre Tóvári; Bálint Fülöp; István Kükemezey; András Magyarkuti; Kenji Watanabe; Takashi Taniguchi; Szabolcs Csonka; Péter Makk
주제: Pressure effects; Quantum Hall effect; Spin-orbit coupling; Weak antilocalization; Bilayer graphene; Graphene; Heterostructures; Transition metal dichalcogenides; Shubnikov-de
AFM-2000 원자힘 현미경
