FPP-1006 4점 프로브 측정

• 박막 반도체, TCO, 금속층의 정밀 시트 저항 측정

• 시료 재질: Si, 에피택셜 층, Si 상 금속층 및 이온 주입층

• 태양전지 이미터 층의 시트저항 측정

• PV 산업, 박막 저항 측정 및 반도체 R&D 분야에서 널리 사용

• Semilab의 신뢰성과 지원을 바탕으로 한 산업 표준 6점 프로브 방식