• 專為研發應用設計： 涵蓋材料科學、半導體元件研究與先進量測
• 廣泛的樣品相容性適用於各種研究應用
• Semilab AFM 備受肯定的產品線： 已獲多篇科學文獻引用
AFM-1000 原子力顯微鏡
作者: Katalin Csonti, Csilla Fazakas, Kinga Molnár, Imola Wilhelm, István A. Krizbai, Attila G. Végh
主題: adhesion assay; Zeiss AFM; single-cell force spectroscopy
作者: P.M. Nagy, D. Aranyi, P. Horváth, G. Pető, E. Kálmán
主題: nanoindentation; Ion Implantation; mechanical properties; AFM
作者: Bálint Szentpéteri; Albin Márffy; Máté Kedves; Endre Tóvári; Bálint Fülöp; István Kükemezey; András Magyarkuti; Kenji Watanabe; Takashi Taniguchi; Szabolcs Csonka; Péter Makk
主題: Pressure effects; Quantum Hall effect; Spin-orbit coupling; Weak antilocalization; Bilayer graphene; Graphene; Heterostructures; Transition metal dichalcogenides; Shubnikov-de
