• AFM 掃描器採用撓性導引壓電定位器確保掃描移動平整穩定
• 可設定掃描區域大小
• 內建雙對焦攝影系統，專用於雷射對位與探針至樣品的精確定位
• 緊湊的桌面AFM系統，佔地面積小，適合研發應用
• 專為研發應用設計、佔地極小的桌上型 AFM產品
• 安全便捷的樣品與懸臂取放設計
• 手動可調式雷射光路
• 電動樣品載台
• 樣品固定：夾具或磁吸
• 高度自動化：可在單一樣品上自動執行一系列不同的量測
AFM-1000 原子力顯微鏡
作者: Katalin Csonti, Csilla Fazakas, Kinga Molnár, Imola Wilhelm, István A. Krizbai, Attila G. Végh
主題: adhesion assay; Zeiss AFM; single-cell force spectroscopy
作者: P.M. Nagy, D. Aranyi, P. Horváth, G. Pető, E. Kálmán
主題: nanoindentation; Ion Implantation; mechanical properties; AFM
作者: Bálint Szentpéteri; Albin Márffy; Máté Kedves; Endre Tóvári; Bálint Fülöp; István Kükemezey; András Magyarkuti; Kenji Watanabe; Takashi Taniguchi; Szabolcs Csonka; Péter Makk
主題: Pressure effects; Quantum Hall effect; Spin-orbit coupling; Weak antilocalization; Bilayer graphene; Graphene; Heterostructures; Transition metal dichalcogenides; Shubnikov-de
