COREMA-2000 非接觸式電阻率分布量測儀

Name: COREMA-2000 非接觸式電阻率分布量測儀
Brand: Semilab

COREMA-2000 非接觸式電阻率分布量測儀 — 非接觸式電阻率分布量測

COREMA-2000系列提供精確、非破壞性且非接觸式的電阻率量測解決方案，主要專為碳化矽 (SiC)、氮化鎵 (GaN)、砷化鎵 (GaAs)、碲化鎘 (CdTe)、氧化鎵 (GaO) 與磷化銦 (InP) 等半絕緣化合物半導體所設計。其具備高精確度與高重複性，可完美支援研究單位與工業半導體製造環境。

Dispersive Microwave Transient Spectroscopy of Deep Levels in Semiconductors

作者: D. Huber, P. Eichinger, G. Ferenczi, T. Pavelka, G. Veszely

主題: Microwave transient spectroscopy; deep levels; semiconductor

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