FPP-1006 四探針量測儀

• 針對半導體薄膜、透明導電氧化層及金屬層提供精確的片電阻量測

• 樣品材料：矽、磊晶層、矽基板上的金屬層或離子佈植層

• 太陽能電池中射極層的片電阻量測

• 廣泛應用於太陽能光電產業、薄膜電阻量測及研發領域

• 符合業界標準的六探針法，並具備 Semilab 的可靠性與支援服務