• R&D用途に設計：材料科学、半導体デバイス研究、先進計測
• さまざまな研究用途に対応する幅広いサンプル互換性
• Semilab AFM製品ファミリーの豊富な実績： 複数の学術論文に引用
AFM-1000 原子間力顕微鏡
著者: Katalin Csonti, Csilla Fazakas, Kinga Molnár, Imola Wilhelm, István A. Krizbai, Attila G. Végh
トピック: adhesion assay; Zeiss AFM; single-cell force spectroscopy
著者: P.M. Nagy, D. Aranyi, P. Horváth, G. Pető, E. Kálmán
トピック: nanoindentation; Ion Implantation; mechanical properties; AFM
著者: Bálint Szentpéteri; Albin Márffy; Máté Kedves; Endre Tóvári; Bálint Fülöp; István Kükemezey; András Magyarkuti; Kenji Watanabe; Takashi Taniguchi; Szabolcs Csonka; Péter Makk
トピック: Pressure effects; Quantum Hall effect; Spin-orbit coupling; Weak antilocalization; Bilayer graphene; Graphene; Heterostructures; Transition metal dichalcogenides; Shubnikov-de
AFM-1000 原子間力顕微鏡
