• フレクシャガイド付きピエゾポジショナーを使用したフラットスキャナー駆動のAFMスキャナー
• 設定可能なスキャンエリアサイズ
• レーザーアライメントおよびチップ‐サンプル位置決め用デュアルフォーカスカメラシステム内蔵
• R&D用途に適した省スペースなコンパクト卓上型AFMシステム
• 簡単かつ安全なサンプルおよびカンチレバーの取り扱い
• 手動調整可能なレーザー光路
• 電動サンプルステージ
• サンプルホルダー：クランプ式またはマグネット固定式
• 高度な自動化：単一サンプルに対し、異なる測定のシリーズを自動的に実行可能
AFM-1000 原子間力顕微鏡
著者: Katalin Csonti, Csilla Fazakas, Kinga Molnár, Imola Wilhelm, István A. Krizbai, Attila G. Végh
トピック: adhesion assay; Zeiss AFM; single-cell force spectroscopy
著者: P.M. Nagy, D. Aranyi, P. Horváth, G. Pető, E. Kálmán
トピック: nanoindentation; Ion Implantation; mechanical properties; AFM
著者: Bálint Szentpéteri; Albin Márffy; Máté Kedves; Endre Tóvári; Bálint Fülöp; István Kükemezey; András Magyarkuti; Kenji Watanabe; Takashi Taniguchi; Szabolcs Csonka; Péter Makk
トピック: Pressure effects; Quantum Hall effect; Spin-orbit coupling; Weak antilocalization; Bilayer graphene; Graphene; Heterostructures; Transition metal dichalcogenides; Shubnikov-de
AFM-1000 原子間力顕微鏡
