• 研发：材料科学、半导体器件研究、先进计量学
• 工业：表面粗糙度测量、关键尺寸控制、纳米计量、在线工艺监控
• 过程控制：晶圆制造、结构特征分析、自动测量
• Semilab AFM 系列产品拥有卓越的市场表现：已在多篇科学文献中被引用
AFM-2000 原子力显微镜
作者: L. Quattropani, K. Solt, P. Niedermann, I. Maggio-Aprile, O. Fischer, T. Pavelka
主题: Schottky diode; RF plasma treated silicon
作者: Katalin Csonti, Csilla Fazakas, Kinga Molnár, Imola Wilhelm, István A. Krizbai, Attila G. Végh
主题: adhesion assay; Zeiss AFM; single-cell force spectroscopy
作者: D. Marinskiy, P. Edelman, A.D. Snider
主题: Kelvin force microscopy; corona charge; concentration profile; surface diffusion
作者: Dmitriy Marinskiy, Patrick Polakowski, Jacek Lagowski, Marshall Wilson, Piotr Edelman, Johannes Müller
主题: corona - Kelvin; Non-Contact Measurement; THIN FILM CHARACTERIZATION
作者: P.M. Nagy, D. Aranyi, P. Horváth, G. Pető, E. Kálmán
主题: nanoindentation; Ion Implantation; mechanical properties; AFM
作者: Bálint Szentpéteri; Albin Márffy; Máté Kedves; Endre Tóvári; Bálint Fülöp; István Kükemezey; András Magyarkuti; Kenji Watanabe; Takashi Taniguchi; Szabolcs Csonka; Péter Makk
主题: Pressure effects; Quantum Hall effect; Spin-orbit coupling; Weak antilocalization; Bilayer graphene; Graphene; Heterostructures; Transition metal dichalcogenides; Shubnikov-de
