microPL, JPV, photo-modulated reflectance2023
离子沟道和共注入对 Si 中离子范围和损伤的影响：使用 PL、SRP、SIMS 和 MC 模型的研究
作者: Samu Viktor, Kerekes Árpád, Pongrácz Anita, Durkó Zsolt
主题: microPL; JPV; photo-modulated reflectance
阅读文献
联系我们获取详情与报价
获取专家建议，为您研发需求量身定制解决方案
测量参数：
SRP-2100 / SRP-2100i 扩展电阻分析仪
作者: Samu Viktor, Kerekes Árpád, Pongrácz Anita, Durkó Zsolt
主题: microPL; JPV; photo-modulated reflectance
作者: E. E. Najbauer, L. Sinkó, Sz. Biró, Z. Durkó, P. Basa
主题: carrier density; epitaxial layer; semiconductor; Silicon (Si); SRP-2100; SRP; FTIR REFLECTOMETRY
SRP-2100 / SRP-2100i 扩展电阻分析仪
