2001
•
J・エレクトロケムSoc.148 (2001) 11 ページ、G655-G661 ページ。

光伝導減衰と自由キャリア吸収測定によるキャリア寿命解析

Read the publication
Header image

Abstract

Topic

シリコン (Si)、元素半導体、キャリア寿命、光伝導

Author

H-J。シュルツ、A・フローンマイヤー、F.-J。ニーダーノストハイデ、F・ヒレ、P・トゥット、T・パベルカ、G・ワチュカ
Read the publication

Related Products

See our related products to this publication:

WT-2000 ウェハーテスター

Learn more

情報と価格についてはお問い合わせください

専門家のアドバイスと研究ニーズに合わせたソリューションを入手してください
連絡を取る