SE-1000 分光エリプソメトリー

•大学、学術研究所、太陽光発電（PV）の研究開発、光学コーティング研究、パイロットスケール生産で広く使用されています

• 薄膜の厚さ、屈折率 (n)、消光係数 (k)、バンドギャップ、組成を測定

• 以下の用途に適しています:

• 薄膜誘電体膜（酸化物、窒化物など）、
• 多孔質フィルム、
• 非常に薄い金属層（例：アルミニウム、チタン、ニッケル、銀、金など）
• グラフェン、
• 3Dナノストラクチャー (IGZO)
• 有機層（OLED、ポリマー）、
• トコ、
• リソグラフィグレーティング

• 正確な薄膜および光学特性の測定用に設計されたコンパクトな卓上エリプソメーター

• 60°～75°の回転ステップを備えた手動ゴニオメーター（オプションで最大40°）

• 高速自動分光データ収集機能を備えた高精度サンプルポジショニングテーブル

•レシピ主導の測定フロー、スケジュールされた測定をサポート

• ユーザーフレンドリーなグラフィカルインターフェイス

• 測定時間:最小 167 ミリ秒、通常は 1-5 秒

• モジュール式で、設置後に拡張可能

•標準のラボベンチに適合（コンパクトな設置面積）

• 波長範囲：380 nm～1000 nm（追加料金で波長延長が可能）

• 手動ゴニオメーター:60°-90°;

•調整ステップ：60°〜75°の範囲で5°（追加料金でご要望に応じてより広い範囲もご利用いただけます）

•調整可能なビーム径：最大直径5 mm（マイクロスポットはデフォルトでは含まれていません。オプションでご利用いただけます）

• 固定サンプルステージ：直径200 mmまでのサンプル