リアルタイムのその場分光エリプソメトリーにより、炭化モリブデン薄膜のサブナノスケールの成長に関する重要な手がかりが得られます。

エリプソメトリックポロシメトリーとスペクトルエリプソメトリーによるナノ構造薄膜の濡れ性分析の高度化。

電子ディスプレイ業界のイノベーションは、正確な測定と開発を可能にする高度な研究開発ツールによって推進されています。

エネルギー、モビリティ、高周波技術の未来を支える化合物半導体の可能性を最大限に引き出すには、正確な抵抗率測定が鍵となる理由をご覧ください。

と、相模大でっちあげる、れぐれもんと、ごめんなさい。主はは、電報でもたらたらたらお得です。

技術開発は、私たちの生活と世界のあらゆる側面を前例のない速度で変えています。Semilabは、この驚異的なペースに誇りを持って貢献しています。

Semilabの高度な光散乱断層撮影システムでバルクの微小欠陥を早期に発見し、完璧なシリコンウェーハとチップ収率の向上を実現します。

効率の向上、品質管理の確保、研究開発の支援、コストの削減など、高度な計測が太陽光発電業界でどのように重要な役割を果たしているかをご覧ください。

パワーエレクトロニクスの未来を推進：セミラボの計測ツールがどのようにGaNとSiCの性能を最適化するかをご覧ください。

IT2 EUプロジェクト内のSemilabは、フォークシートFETの非対称性を検出する強力な方法としてミューラーマトリックスエリプソメトリーを模索しています。これにより、従来の手法よりも精度が向上し、ヨーロッパの半導体イノベーションの推進がサポートされます。

ACホール測定技術とDCホール測定技術の違いと、Semilab PDLホールシステムが電子材料とデバイスの特性評価のための多用途ソリューションをどのように提供するかについて学んでください。

高まるチップ需要に高精度で応える：セミラボのアドバンストメトロロジーが半導体製造の複雑さをどのように解決するか

Semilab En-Vision システムの独自の機能、用途、利点をご覧ください。

Semilabは、30年以上のグローバルな経験を持つDLTSソリューションを提供しています。

カスタマイズされた表面特性評価ツールが、材料に関する知見、生産性、競争上の優位性を高め、研究開発を強化する方法を探ります。

Semilab AFM製品ファミリーでAFMの真の可能性を解き放ち、優れた研究と製造に役立つ材料についての理解を深めてください。当社の最新製品である AFM-3000 をご紹介します。

界面が不安定であるにもかかわらず、高度なスペクトルエリプソメトリーを使用してバルク液体の正確な光学特性評価を可能にします。

DLTSは、半導体の欠陥の検出と分析において比類のない感度を備えているため、高度なウェーハ特性評価を行うための強力なツールとなっています。

半導体サンプルの複雑さを正確かつ自信を持って明らかにし、私たちと一緒に量子ドット技術と半導体の卓越性の未来を形作ってください。