PDL-1000 フォトホール測定

ザの PDL は、以下の目的で設計されたコンパクトな卓上システムです。 正確なホール効果と移動度の測定 先端材料研究で。永久磁石を用いた交流磁場ホール測定法と直流磁場ホール測定法の両方に対応しており、半導体、太陽光発電、新素材を研究する研究開発ラボに最適な高感度を実現しています。

• 低移動度サンプルや半絶縁性サンプルを含む正確な移動度およびキャリア濃度の測定

• 半導体、太陽光発電、熱電材料、新材料の電気特性評価

• Carrier-Resolved Photo-Hallオプションによるマイノリティおよびマジョリティキャリアの移動度、再結合寿命、拡散長

• 80KまでのLN2クライオスタットオプションによる温度依存測定

• パラレルダイポールライン (PDL) ホール測定

• 永久磁石による交流および直流磁界

• 極めて低い可動域を含む幅広い可動域に対応

•かさばる電磁石（回転する永久磁石を使用）なしでACホールとDCホールの両方の測定をサポート

• ソフトウェアベースのロックイン検出による信号抽出の改善

• コンパクトで頑丈な卓上デザイン

• オプションでご利用可能:

感度と範囲：
0.01 cm²/V·s未満までのキャリアモビリティを測定
ピークからピークまでの磁場強度：約2.5テスラ
5x5 mmのサンプルでは均一性が 2% 未満
オプション:
- CRPH マイノリティキャリアの移動度、寿命、拡散長のキャリア分解フォトホール測定
  - 830 nm、637 nm、520 nm、460 nm イルミネーション (2 つ選択可能)
  - 10 x 10 ミリメートルのスポットサイズ
  - 最大 3 つの太陽
- LN2 クライオスタット 温度依存測定用
  - 80-350K

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抵抗率測定