ディープトラップの電界依存熱放射データの解釈

この論文では、半導体ダイオードの空間電荷領域にある深いトラップからの熱放射と同時に、Debye-Tailからのキャリアの再捕捉の結果について考察しています。熱放射の電界依存研究における前述のプロセスの重要性は、DLTS 測定によって実証されています。再捕捉メカニズムを無視すると誤解を招く可能性があることが明らかになっています。