2006
イオン注入技術に関する国際会議-IIT 2006

インプラントシリコンの光電測定法:現象学的アプローチ

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Abstract

注入されたシリコンのモニタリング用に、表面光電効果(SPV)に基づく光電法が開発されました。インプラントの主な相関関係を説明する現象学的モデルが提案されています。この方法のインプラント用量とエネルギー感受性のメカニズムが特定されました。

Topic

シリコン (Si)、計測、光電圧、欠陥、寿命

Author

K・スティープルズ、E・ツィディルコフスキー

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