リサーチと
開発ソリューション
製品 & ソリューション
マテリアルサイエンス
抵抗率測定
モビリティ測定
コンタミネーションと
不純物検出
膜厚と光学特性
走査型プローブの顕微鏡と機械的特性
ライフサイエンス
クォーツクリスタルマイクロバランス
生体分子分析
シングルセル分離
抵抗率測定
正確な接触抵抗試験
COREMA-2000 非接触抵抗率マッピング
FPP-1000 4ポイント・プローブ測定
FPP-1006 4ポイントプローブ測定
Lehighton-2000RS 新法と新感度
MCV-530 (L) マーキュリープローブシステム
SRP-170拡散抵抗プロファイリング
SRP-2100/SRP-2100i 拡散抵抗プロファイリング
モビリティ測定
非接触、高感度マッピング
PDL-1000 フォトホール測定
Lehighton-2000Mシートの抵抗と移動度の測定
汚染と不純物の検出
高度な不純物特性評価ツール
WT-2000 ウェハーテスター
DLS-1100 ディープ・レベル・トランジェント・スペクトロスコピー
DLS-83D ディープレベル過渡分光法
膜厚と光学特性
正確な薄膜分析
InSE-1000 分光エリプソメトリー
SE-1000 分光エリプソメトリー
SE-2000 分光エリプソメトリー
走査型プローブの顕微鏡と機械的特性
正確なテクスチャと地形のマッピング
AFM-1000 原子間力顕微鏡
AFM-2000 原子間力顕微鏡
IND-1000 デノセント
IND-1500 ナノインデンテーション
クォーツクリスタルマイクロバランス
超高感度質量検出
クォーツクリスタルマイクロバランス
生体分子分析
分子相互作用の詳細な洞察
生体分子分析
シングルセル分離
個々の細胞を正確に選別
シングルセル分離
製品 & ソリューション
マテリアルサイエンス
抵抗率測定
正確な接触抵抗試験。
モビリティ測定
非接触、高感度マッピング。
汚染と不純物の検出
高度な不純物特性評価ツール
膜厚と光学特性
正確な薄膜分析。
走査型プローブ顕微鏡
正確なテクスチャと地形のマッピング。
ライフサイエンス
クォーツクリスタルマイクロバランス
超高感度質量検出。
生体分子分析
詳細な分子相互作用の洞察。
シングルセル分離
個々の細胞を正確に選別します。
ナレッジベース
ホワイトペーパー
最新の業界ニュース、アップデート、情報
出版物
お客様がどのように大きな変化をもたらしているかをご覧ください
連絡
セミラボグローバル
2001
•
TIテクニカルジャーナル、エンジニアリングテクノロジー、2001年
プロセス誘起酸化物電荷と界面電荷、およびバルクシリコン中のキャリアとの反応性
Read the publication
Abstract
Topic
Author
J・E・スタインレ
Read the publication
Related Products
See our related products to this publication:
WT-2000 ウェハーテスター
Learn more
情報と価格についてはお問い合わせください
専門家のアドバイスと研究ニーズに合わせたソリューションを入手してください
連絡を取る
![[ロゴ]](https://cdn.prod.website-files.com/68372bb9240031515e382a6d/68429db3141db3b5f960a231_semilab-logo.svg){kind=logo}
