SiC、GaN、AlGaN/GaN HEMTの電荷および光アシストによる非接触電気特性評価における最近の進歩

マーシャル・ウィルソン、アンドリュー・フィンドレー、アレクサンドル・サヴチューク、ジョン・ダミコ、ロバート・ヒラード、堀切史正、ジェイチェク・ラゴウスキー