サブナノスケールの高精度測定ツール

January 30, 2026

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Figure 1. Real time in situ spectroscopy for PE-ALD processing with a sampling rate of <0.2 ms per measurement for 245 – 990 nm wavelength.

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フレーム

ティラン法でMOCX膜の祭典、ウアロペ・アルドフェス・セバラナナイナも。、親成成成成成成さん。

前大酒

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Image Reference: In Situ Characterization of Thin Film Molybdenum Carbide Using Spectroscopic Ellipsometry. A. Bertuch, J. Hoglund, L. Makai, J. Byrnes, J. McBee, G. Sundaram. Veeco - CNT, SemiLab USA.

画像: 分光りりりプソママ第四節第四節会。A. Bertuch、J. Hoglund、L. Makai、J. Burnes、J. McBee、G. Sundaram。Veeco-CNT、米国セミラボ

文定と常年

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サ・エン・シツウで大ブズブツ光る

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